Cina Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. mappa del sito

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Unità di misura di fonte

S300 SMU DC Unità di misura della sorgente 300V 1A per la prova delle caratteristiche elettriche

30V 3A Unità di misurazione della sorgente ad alta precisione S100B DC SMU Unità di prova dei semiconduttori

Test delle caratteristiche elettriche dei semiconduttori SMU unità S100 DC 30V 1A SMU misurazione

S200 Unità SMU ad alta precisione 100V 1A per la prova delle prestazioni elettriche

HCP200 Unità di misura della fonte di impulso per moduli di celle solari

Unità di misura SMU da 100 V a 100 A Impulsometro di sorgente ad alta corrente HCP300 per IGBT

Misuratore di sorgente a doppio canale

Unità DP100B con misurazione di tensione/corrente

100V 30A Dual Channel Source Meter DP200B Unità di misurazione della sorgente per la prova BJT

Unità di misurazione DP300B SMU per la prova delle caratteristiche elettriche

Apparecchiature di prova multicanale

100V 1A PXI Unità di misura della sorgente Single Channel Sub Card DC SMU Unità CS200

Unico canale PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100

1010C Unità SMU multicanale per la caratterizzazione dei semiconduttori e dei materiali

3 slot di connessione alla scheda SMU Unità di misura della sorgente 1003C

4 canali Strumenti nazionali SMU 10V 500mA Sub Card DC Misura CS401

Fornitore di corrente elevata

300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test

1000A 18V corrente alta fonte di corrente di impulso HCPL100 alimentazione programmabile

Fonte di alimentazione ad alta tensione

2200V 100mA Fonte di alimentazione ad alta tensione E200 Fonte di alimentazione a tensione costante

3500V/100mA Fonte di alimentazione ad alta tensione

Sorgente di alimentazione ad alta tensione 8000V 40mA E800 Per prova HEMT SiC / IGBT / GaN

1200V 100mA Unità di misura della sorgente di alimentazione ad alta tensione per la prova di tensione di rottura IGBT

Prova dell'alimentazione del laser

20A CW / 20A QCW Prova di alimentazione laser HCPL002 alimentazione laser a diodo ad alta potenza

HCPL006 Fornitore di alimentazione del laser a diodo 60A CW/60A QCW Fornitore di alimentazione del laser di prova

60A CW / 600A QCW Testing Laser Power Supply HCPL060 Diode Laser Power Supply

Carta di acquisizione dati

2MS/S Multi Channel Pxi SMU High Speed Data Acquisition Card A400B High Speed Daq Card

1MS/S A400 Data Acquisition Card 4 canali 16 bit ADC Resolution Daq Card

Sistemi di prova dei semiconduttori

1200V/100A Analisatore di parametri dei semiconduttori SPA6100

Sistema di prova C-V per dispositivi semiconduttori 10 Hz-1 MHz

1000A Sistema di prova del sensore di corrente CTMS Attrezzatura di prova dei semiconduttori

LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Sistema di prova multicanale

10kV/6000A Analisi statica del dispositivo di alimentazione PMST Per Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semiconduttore

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