Casi - Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

2025-02-18

Prova del fotodiodo

Panoramica Il diodo è un dispositivo a semiconduttore che converte la luce in corrente. Esiste uno strato intrinseco tra gli strati P (positivi) e N (negativi). Il fotodiodo accetta l'energia luminosa come ingresso per generare corrente elettrica. I fotodiodi sono anche noti come fotodettori, ...

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2023-03-31

Prova delle prestazioni elettriche dei triodi e dei transistor bipolari

Il transistor a giunzione bipolare-BJT è uno dei componenti di base dei semiconduttori. Ha la funzione di amplificazione della corrente ed è il componente centrale dei circuiti elettronici.Il BJT è realizzato su un substrato semiconduttore con due giunzioni PN molto vicine tra loro.Le due giunzioni ...

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2023-03-31

Prova dei diodi IV e C-V

Un diodo è un componente conduttore unidirezionale realizzato con materiali semiconduttori. La struttura del prodotto è generalmente una singola struttura di giunzione PN, che consente solo al flusso di corrente in una sola direzione.I diodi sono ampiamente utilizzati nella rettificazioneI circuiti ...

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2025-02-28

Prova dei parametri del dispositivo RF GAN HEMT

I dispositivi a radiofrequenza sono i componenti di base per realizzare la trasmissione e la ricezione del segnale e sono il nucleo della comunicazione wireless, principalmente inclusi filtri (filtro), amplificatori di potenza (PA), switch di radiofrequenza (interruttore), amplificatori a basso ...

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2025-02-28

Soluzione di prova dei parametri statici del dispositivo di alimentazione IGBT preciso

IGBT e sviluppo delle sue applicazioni L'IGBT (Isolated Gate Bipolar Transistor) è il dispositivo centrale di controllo di potenza e conversione di potenza.Si tratta di un dispositivo semiconduttore di potenza a tensione completamente controllato composto da BJT (Bipolar Transistor) e MOS (Isolated ...

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Unità di misura di fonte

Misuratore di sorgente a doppio canale

Apparecchiature di prova multicanale

Fornitore di corrente elevata

Fonte di alimentazione ad alta tensione

Prova dell'alimentazione del laser

Carta di acquisizione dati

Sistemi di prova dei semiconduttori

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