![]() |
Marchio: | PRECISE INSTRUMENT |
Numero di modello: | CS100 |
MOQ: | 1 unità |
Tempo di consegna: | 2- 8 settimane |
Condizioni di pagamento: | T/T |
Unico canale PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100
La sottokarte modulare CS100 è un modulo di prova ad alte prestazioni progettato per l'integrazione con sistemi di telaio modulare.fornisce soluzioni efficienti per scenari di prova complessiEssendo una componente fondamentale dell'ecosistema di prova, la sottokarte CS100 opera in sinergia con il telaio principale per adattarsi alle diverse esigenze del settore, dalla convalida dei semiconduttori all'automazione industriale.
Caratteristiche del prodotto
▪Misurazione ad alta precisione:Raggiunge un'accuratezza dello 0,1% su intere gamme di misura.
▪Risposta rapida:La velocità di campionamento di 1 kS/s garantisce l'acquisizione e l'elaborazione dei dati in tempo reale.
▪Configurazione flessibile:Si integra perfettamente con altre sottokarte per configurazioni di test personalizzate.
▪Personalizzazione del trigger:La configurazione flessibile del bus di attivazione del canale consente combinazioni di funzioni di prova multiple.
▪Facile integrazione:Progettazione compatta compatibile con i rack standard da 19 pollici per una distribuzione ottimizzata.
Parametri del prodotto
Articolo 2 |
Parametri |
Numero di canali |
1 canale |
Intervallo di tensione |
300 mV ~ 30 V |
Risoluzione della tensione minima |
30 uV |
Intervallo di corrente |
100nA1A |
Risoluzione minima di corrente |
10 pA |
Potenza massima di uscita in onda continua (CW) |
30W, modalità sorgente o canale a 4 quadranti |
Capacità di carico stabile |
< 22nF |
Rumore a banda larga (20MHz) |
2mV RMS (valore tipico), < 20mV Vp-p (valore tipico) |
Tasso massimo di campionamento |
1000 S/s |
Accuratezza della misurazione della fonte |
00,10% |
Ospiti compatibili |
1003C,1010C |
Applicazioni
▪Prova dei semiconduttori:Supporta il test dei parametri elettrici (ad esempio, resistenza attiva, corrente di perdita) per chip e transistor, consentendo il controllo della qualità e l'ottimizzazione delle prestazioni nella ricerca e sviluppo e nella produzione.
▪Test delle batterie a nuova energia:Valuta le metriche di prestazione delle batterie agli ioni di litio/solari come i cicli di carica-scarica, la capacità e la resistenza interna per accelerare lo sviluppo della tecnologia di stoccaggio dell'energia.
▪Validazione dei componenti elettronici:Misurazione di precisione dei componenti passivi (resistenze, condensatori, induttori) per garantire la conformità agli standard di affidabilità industriale.
▪Ricerca accademica:Funge da piattaforma di test modulare per università e laboratori in ingegneria elettrica e scienze dei materiali, consentendo esperimenti all'avanguardia in MEMS, elettronica flessibile e altro ancora.
![]() |
Marchio: | PRECISE INSTRUMENT |
Numero di modello: | CS100 |
MOQ: | 1 unità |
Dettagli dell' imballaggio: | Cartone. |
Condizioni di pagamento: | T/T |
Unico canale PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100
La sottokarte modulare CS100 è un modulo di prova ad alte prestazioni progettato per l'integrazione con sistemi di telaio modulare.fornisce soluzioni efficienti per scenari di prova complessiEssendo una componente fondamentale dell'ecosistema di prova, la sottokarte CS100 opera in sinergia con il telaio principale per adattarsi alle diverse esigenze del settore, dalla convalida dei semiconduttori all'automazione industriale.
Caratteristiche del prodotto
▪Misurazione ad alta precisione:Raggiunge un'accuratezza dello 0,1% su intere gamme di misura.
▪Risposta rapida:La velocità di campionamento di 1 kS/s garantisce l'acquisizione e l'elaborazione dei dati in tempo reale.
▪Configurazione flessibile:Si integra perfettamente con altre sottokarte per configurazioni di test personalizzate.
▪Personalizzazione del trigger:La configurazione flessibile del bus di attivazione del canale consente combinazioni di funzioni di prova multiple.
▪Facile integrazione:Progettazione compatta compatibile con i rack standard da 19 pollici per una distribuzione ottimizzata.
Parametri del prodotto
Articolo 2 |
Parametri |
Numero di canali |
1 canale |
Intervallo di tensione |
300 mV ~ 30 V |
Risoluzione della tensione minima |
30 uV |
Intervallo di corrente |
100nA1A |
Risoluzione minima di corrente |
10 pA |
Potenza massima di uscita in onda continua (CW) |
30W, modalità sorgente o canale a 4 quadranti |
Capacità di carico stabile |
< 22nF |
Rumore a banda larga (20MHz) |
2mV RMS (valore tipico), < 20mV Vp-p (valore tipico) |
Tasso massimo di campionamento |
1000 S/s |
Accuratezza della misurazione della fonte |
00,10% |
Ospiti compatibili |
1003C,1010C |
Applicazioni
▪Prova dei semiconduttori:Supporta il test dei parametri elettrici (ad esempio, resistenza attiva, corrente di perdita) per chip e transistor, consentendo il controllo della qualità e l'ottimizzazione delle prestazioni nella ricerca e sviluppo e nella produzione.
▪Test delle batterie a nuova energia:Valuta le metriche di prestazione delle batterie agli ioni di litio/solari come i cicli di carica-scarica, la capacità e la resistenza interna per accelerare lo sviluppo della tecnologia di stoccaggio dell'energia.
▪Validazione dei componenti elettronici:Misurazione di precisione dei componenti passivi (resistenze, condensatori, induttori) per garantire la conformità agli standard di affidabilità industriale.
▪Ricerca accademica:Funge da piattaforma di test modulare per università e laboratori in ingegneria elettrica e scienze dei materiali, consentendo esperimenti all'avanguardia in MEMS, elettronica flessibile e altro ancora.