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Marchio: | PRECISE INSTRUMENT |
Numero di modello: | CS300 |
MOQ: | 1 unità |
Tempo di consegna: | 2- 8 settimane |
Condizioni di pagamento: | T/T |
300V 1A Unità SMU modulare Single Channel Sub Card DC Source Measurement Unit CS300
La sottokarte modulare CS300 è un membro fondamentale delle unità di misurazione delle sorgenti (SMU) di alta precisione della serie CS, progettate per la caratterizzazione elettrica ad alta tensione e alta precisione.Come modulo SMU monocanale, si integra perfettamente nei sistemi host 1003CS o 1010CS, supportando il funzionamento a quattro quadranti (modi di sourcing/sinking) per soddisfare le esigenze di test di precisione nei dispositivi a semiconduttori, nei nanomateriali,con una potenza massima di 300V/1A, combinata con un'ampia gamma dinamica e una attivazione sincronizzata,fornisce una stabilità eccezionale in scenari di prova complessi come i test di stress dei dispositivi di alimentazione e l'analisi dei materiali a film sottile.
Caratteristiche del prodotto
▪Set di comando SCPI standard:Semplifica l'integrazione di automazione e lo scripting personalizzato.
▪Flessibilità multi-sottocarte:Architettura scalabile per configurazioni di test paralleli.
▪Software host ottimizzato:software host universale preinstallato con latenza di comando < 10 ms.
▪Ecosistema di test end-to-end:Soluzioni unificate che comprendono materiali semiconduttori fino alla convalida dei dispositivi.
▪Modularità efficiente in termini di spazio:La progettazione in altezza 1U massimizza la densità dei rack riducendo al minimo l'impronta.
Parametri del prodotto
Articolo 2 |
Parametri |
Numero di canali |
1 canale |
Intervallo di tensione |
300mV~300V |
Risoluzione della tensione minima |
30 uV |
Intervallo di corrente |
100nA1A |
Risoluzione minima di corrente |
10 pA |
Potenza massima di uscita in onda continua (CW) |
30W, modalità sorgente o canale a 4 quadranti |
Limiti della fonte di tensione |
±30V (per il range ≤1A), ±300V (per il range ≤100mA) |
Limiti delle fonti attuali |
±1A (per il range ≤30V), ±100mA (per il range ≤300V) |
Capacità di carico stabile |
< 22nF |
Rumore a banda larga (20MHz) |
2mV RMS (valore tipico), < 20mV Vp-p (valore tipico) |
Tasso massimo di campionamento |
1000 S/s |
Accuratezza della misurazione della fonte |
00,10% |
Ospiti compatibili |
1003C,1010C |
Applicazioni
▪Test di dispositivi semiconduttori:IV caratterizzazione e sperimentazione dei parametri dinamici di dispositivi discreti (MOSFET, BJT, dispositivi SiC).
▪Ricerca sui nanomateriali e sugli organici:Valutazione della conduttività e delle proprietà del vettore di carica per grafene, nanofili e materiali semiconduttori organici.
▪Validazione dell'efficienza energetica del dispositivo:Analisi dell'efficienza e caratterizzazione della regolazione del carico delle celle solari e dei convertitori DC-DC.Sensori e prove di componenti di precisione.Validazione dei sensori ad effetto Hall, misurazione della resistività,test di stabilità a lungo termine per dispositivi a bassa potenza.
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Marchio: | PRECISE INSTRUMENT |
Numero di modello: | CS300 |
MOQ: | 1 unità |
Dettagli dell' imballaggio: | Cartone. |
Condizioni di pagamento: | T/T |
300V 1A Unità SMU modulare Single Channel Sub Card DC Source Measurement Unit CS300
La sottokarte modulare CS300 è un membro fondamentale delle unità di misurazione delle sorgenti (SMU) di alta precisione della serie CS, progettate per la caratterizzazione elettrica ad alta tensione e alta precisione.Come modulo SMU monocanale, si integra perfettamente nei sistemi host 1003CS o 1010CS, supportando il funzionamento a quattro quadranti (modi di sourcing/sinking) per soddisfare le esigenze di test di precisione nei dispositivi a semiconduttori, nei nanomateriali,con una potenza massima di 300V/1A, combinata con un'ampia gamma dinamica e una attivazione sincronizzata,fornisce una stabilità eccezionale in scenari di prova complessi come i test di stress dei dispositivi di alimentazione e l'analisi dei materiali a film sottile.
Caratteristiche del prodotto
▪Set di comando SCPI standard:Semplifica l'integrazione di automazione e lo scripting personalizzato.
▪Flessibilità multi-sottocarte:Architettura scalabile per configurazioni di test paralleli.
▪Software host ottimizzato:software host universale preinstallato con latenza di comando < 10 ms.
▪Ecosistema di test end-to-end:Soluzioni unificate che comprendono materiali semiconduttori fino alla convalida dei dispositivi.
▪Modularità efficiente in termini di spazio:La progettazione in altezza 1U massimizza la densità dei rack riducendo al minimo l'impronta.
Parametri del prodotto
Articolo 2 |
Parametri |
Numero di canali |
1 canale |
Intervallo di tensione |
300mV~300V |
Risoluzione della tensione minima |
30 uV |
Intervallo di corrente |
100nA1A |
Risoluzione minima di corrente |
10 pA |
Potenza massima di uscita in onda continua (CW) |
30W, modalità sorgente o canale a 4 quadranti |
Limiti della fonte di tensione |
±30V (per il range ≤1A), ±300V (per il range ≤100mA) |
Limiti delle fonti attuali |
±1A (per il range ≤30V), ±100mA (per il range ≤300V) |
Capacità di carico stabile |
< 22nF |
Rumore a banda larga (20MHz) |
2mV RMS (valore tipico), < 20mV Vp-p (valore tipico) |
Tasso massimo di campionamento |
1000 S/s |
Accuratezza della misurazione della fonte |
00,10% |
Ospiti compatibili |
1003C,1010C |
Applicazioni
▪Test di dispositivi semiconduttori:IV caratterizzazione e sperimentazione dei parametri dinamici di dispositivi discreti (MOSFET, BJT, dispositivi SiC).
▪Ricerca sui nanomateriali e sugli organici:Valutazione della conduttività e delle proprietà del vettore di carica per grafene, nanofili e materiali semiconduttori organici.
▪Validazione dell'efficienza energetica del dispositivo:Analisi dell'efficienza e caratterizzazione della regolazione del carico delle celle solari e dei convertitori DC-DC.Sensori e prove di componenti di precisione.Validazione dei sensori ad effetto Hall, misurazione della resistività,test di stabilità a lungo termine per dispositivi a bassa potenza.