1010C Unità SMU multicanale per la caratterizzazione dei semiconduttori e dei materiali

Il telaio modulare 1010C integra tecnologia all'avanguardia con ingegneria innovativa,fornire una soluzione di prova ad alte prestazioni, su misura per le diverse esigenze della moderna R&S e delle applicazioni industrialiQuesta piattaforma altamente adattabile presenta un'architettura unificata che supporta l'adattamento senza soluzione di continuità di sottocarte funzionali intercambiabili.consentire l'esecuzione di precisioni di scenari di prova complessi attraverso la convalida dei semiconduttori, la caratterizzazione avanzata dei materiali e la taratura dei sensori multicanale.

Caratteristiche del prodotto

▪Sincronizzazione multicanale:Configurazione flessibile della quantità/tipo di sottocarte.

▪Trasmissione ad alta velocità:La larghezza di banda del backplane di 3 Gbps e il bus di trigger di 16 canali assicurano una precisione di sincronizzazione a livello di μs.

▪Dimensione standard:Compatibilità con rack standard da 19 pollici per un'integrazione efficiente.

▪Affidabilità industriale:Protezione EMI a più strati e sistema intelligente di raffreddamento.

▪Interfacce multi-protocollo:Interfacce GPIB/RS-232/Gigabit Ethernet per una connettività senza soluzione di continuità.

▪Supporto di comando SCPI:Abilita il controllo in cascata dei dispositivi multipiattaforma.

▪Ampia compatibilità:Integrazione senza soluzione di continuità con le sottokarte della serie Pusces CS/CBI.

Parametri del prodotto

Applicazioni

▪Semiconduttori di potenza:utilizzato per vari test di semiconduttori di potenza rappresentati da SiC (carburo di silicio) e GaN (nitruro di gallio), compresi i test di tensione di rottura e di invecchiamento,fornire supporto dati per la ricerca e lo sviluppo e l'ispezione della qualità dei semiconduttori di potenza.

▪Dispositivi discretiPuò condurre prove di resistenza alla tensione su dispositivi discreti come diodi e transistor, garantendo che le prestazioni di questi dispositivi soddisfino gli standard in ambienti di tensione diversi.

▪Circuiti integrati:Nei settori dei circuiti integrati e della microelettronica, viene utilizzato per test relativi ai chip per garantire la stabilità e l'affidabilità dei chip in ambienti ad alta tensione.

▪Ricerca dei materiali:Per lo studio delle proprietà elettriche dei materiali semiconduttori, attraverso l'uscita ad alta tensione e le funzioni di misurazione, vengono analizzate le caratteristiche dei materiali,contribuire alla ricerca e allo sviluppo di nuovi materiali semiconduttori.

▪Sensori:Fornisce soluzioni di prova di verifica delle prestazioni per vari sensori, simula ambienti ad alta tensione e rileva le prestazioni dei sensori in condizioni di tensione estrema.

▪Campo di insegnamento:Fornisce attrezzature professionali per laboratori di insegnamento di circuiti integrati e microelettronica,aiutare gli studenti a imparare i principi e i metodi di funzionamento delle prove ad alta tensione e migliorare le loro capacità pratiche.