100V 1A PXI Unità di misura della sorgente Single Channel Sub Card DC SMU Unità CS200

La sottokarte modulare CS200 è un'unità di misurazione digitale di sorgente (SMU) digitale a canale singolo di alta precisione progettata per sistemi host modulari multi-slot.questa sottocartella integra la fonte di tensione/corrente, funzioni voltmetro/ammetro e capacità di carico elettronico in un unico modulo.permette l'approvvigionamento e la misurazione simultanei di corrente/tensione, che lo rende ideale per compiti complessi di caratterizzazione elettrica come l'analisi parametrica dei semiconduttori e la convalida dei dispositivi di alimentazione.

Caratteristiche del prodotto

▪Precisione:0accuratezza di sorgente/misurazione dello 0,1% con risoluzione a 51⁄2 cifre.

▪Intervalli:Tensione 300 mV ≈ 100 V, corrente 100 nA ≈ 1 A, potenza massima 30 W.

▪Moduli operativi:Operazione a quattro quadranti sia per l'approvvigionamento che per il caricamento elettronico.

▪Scalabilità:Compatibile con gli host Pusces 1003CS (3-slot) e 1010CS (10-slot).

▪Controllo multicanale:Il bus di attivazione consente la scansione sincronizzata o il funzionamento indipendente tra le sottokarte.

▪Modi di scansione:Scansione lineare, esponenziale e curva IV personalizzata per caratterizzazione complessa.

▪Interfacce:RS-232, GPIB ed Ethernet per l'integrazione senza soluzione di continuità nei sistemi di prova automatizzati.

Parametri del prodotto

Applicazioni

▪Test di dispositivi semiconduttori:IV caratterizzazione e analisi parametrica di dispositivi discreti (diodi, BJT, MOSFET, dispositivi SiC).

▪Valutazione dei sensori, compresa la misurazione della resistività e l'analisi dell'effetto Hall.Materiali e energia avanzati▪Tecnologie:Caratterizzazione delle proprietà elettriche dei nanomateriali (grafene, nanofili) e dei materiali organici (inchiostro elettronico). Valutazione dell'efficienza e valutazione dell'invecchiamento per celle solari, LED e AMOLED.

▪Applicazioni industriali e di ricerca:Sistemi di prova paralleli multicanale per la verifica del ciclo della batteria e la convalida dell'efficienza del convertitore CC-CC.Soluzioni di prova ad alta densità (ad es.test a livello di wafer) tramite collaborazione multi-subcard per migliorare il throughput.