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Un buon prezzo.  in linea

Dettagli dei prodotti

Created with Pixso. Casa. Created with Pixso. prodotti Created with Pixso.
Fornitore di corrente elevata
Created with Pixso. 300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test

300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test

Marchio: PRECISE INSTRUMENT
Numero di modello: HCPL030
MOQ: 1 unità
Tempo di consegna: 2- 8 settimane
Condizioni di pagamento: T/T
Informazioni dettagliate
Luogo di origine:
Cina
corrente di impulso di uscita:
1A-300A
Tensione di carico di uscita:
20V@300A e impulso ≤ 500
Larghezza dell'impulso di corrente:
50 μs-1 ms
Aumento corrente - tempo:
10 μs
Imballaggi particolari:
Cartone.
Capacità di alimentazione:
500 SET/MONTH
Evidenziare:

Fornitore di alimentazione a impulsi 300A 30V

,

Fonte di corrente alta 300A 30V

,

Fornitura di alimentazione a impulso di prova HEMT

Descrizione del prodotto

300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test

L'alimentazione ad impulso ad alta corrente della serie HCPL030 è una fonte a impulso costante.con relè di controllo esterno), supporto per la misurazione della tensione di impulso a due canali (campionamento di picco) e supporto per la commutazione della polarità di uscita.Ha una corrente di uscita singola unit di 300A e supporta la misurazione parallela di almeno sei o più dispositiviIl dispositivo è principalmente destinato alla prova dei wafer e può essere utilizzato in scenari di prova che richiedono alta corrente per i diodi di Schottky, le pile di ponte rettore, i dispositivi IGBT, i moduli a mezzo ponte IGBT,Moduli IPM, ecc. con una corrente inferiore a 300A. Utilizzando questo dispositivo, la prova di scansione "corrente-in-stato di tensione" può essere completata indipendentemente.

 

Caratteristiche del prodotto

b. "tecnologia" per la "riproduzione" o la "produzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie".

Tempo di risalita ultra veloce di 10 μs (tempo tipico).

Misurazione della tensione sincrona a due canali con una precisione dello 0,1%.

300 A di potenza programmabile per unità.

Supporta la protezione da sovra-corrente e la protezione da circuito aperto anormale.

Applicabile alla prova del tempo di risposta dei sensori ad alta corrente (risposta di passo).

 

Parametri del prodotto

Articolo 2

Parametri

Larghezza dell'impulso di corrente

50 μs - 1 ms

Selezione della polarità di uscita

positivo, negativo

Tempo minimo di ripetizione dell'impulso

100 ms

Aumento corrente - tempo

10 μs

Tensione di carico di uscita

20V@300A e impulso ≤ 500300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test 0

Misurazione della tensione DUT

Il numero di canali di misurazione indipendenti è 2. I metodi di misurazione sono la misurazione a distanza e la misurazione di picco - tensione (i punti di campionamento possono essere configurati)

corrente di impulso di uscita

L'intervallo è diviso in 5A, 100A e 300A, con una risoluzione di 16 bit.e l'accuratezza dell'intervallo 300A è ±00,1% ± 256 mA

Interfacce di comunicazione

RS232, LAN

Noise

< 65 dB

Voltaggio di ingresso

90 - 264V, 50/60Hz

 

Applicazioni

Diodo Schottky:Esso è utilizzato per testare la tensione immediata del diodo di Schottky, può fornire impulsi di alta corrente per simulare la situazione di alta corrente in funzionamento reale,e misurare con precisione i suoi parametri di prestazione in condizioni di alta corrente.

Piattaforma di ponte rettificatore:Può eseguire una prova di spazzatura IV sulla pila di ponte raddrizzatore, rilevare le prestazioni di conduzione e la variazione di tensione della pila di ponte raddrizzatore sotto diverse correnti,e valutare la sua qualità e prestazioni.

Dispositivo IGBT:Può testare parametri quali il calo di tensione in stato di attivazione e l'impedenza del filo di legame dell'IGBT.Questo aiuta gli ingegneri a capire lo stato di funzionamento dell'IGBT sotto impulsi di corrente elevata e determinare se soddisfa i requisiti di progettazione e gli standard di qualità.

Modulo IGBT Half-Bridge, modulo IPM:Per il modulo IGBT half-bridge e il modulo IPM, possono essere completati elementi di prova quali il calo di tensione IGBT in stato di accensione, la tensione di diodo immediata in avanti e l'impedenza del filo di legame,fornire supporto dati per la valutazione delle prestazioni e l'ispezione della qualità dei moduli.

Prova del sensore ad alta corrente:È applicabile alla prova del tempo di risposta (in fase) dei sensori ad alta corrente.prova la velocità di risposta e la precisione del sensore alle variazioni di corrente, e valuta gli indicatori di prestazione del sensore.



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300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test

Marchio: PRECISE INSTRUMENT
Numero di modello: HCPL030
MOQ: 1 unità
Dettagli dell' imballaggio: Cartone.
Condizioni di pagamento: T/T
Informazioni dettagliate
Luogo di origine:
Cina
Marca:
PRECISE INSTRUMENT
Numero di modello:
HCPL030
corrente di impulso di uscita:
1A-300A
Tensione di carico di uscita:
20V@300A e impulso ≤ 500
Larghezza dell'impulso di corrente:
50 μs-1 ms
Aumento corrente - tempo:
10 μs
Quantità di ordine minimo:
1 unità
Imballaggi particolari:
Cartone.
Tempi di consegna:
2- 8 settimane
Termini di pagamento:
T/T
Capacità di alimentazione:
500 SET/MONTH
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,

Fonte di corrente alta 300A 30V

,

Fornitura di alimentazione a impulso di prova HEMT

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300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test

L'alimentazione ad impulso ad alta corrente della serie HCPL030 è una fonte a impulso costante.con relè di controllo esterno), supporto per la misurazione della tensione di impulso a due canali (campionamento di picco) e supporto per la commutazione della polarità di uscita.Ha una corrente di uscita singola unit di 300A e supporta la misurazione parallela di almeno sei o più dispositiviIl dispositivo è principalmente destinato alla prova dei wafer e può essere utilizzato in scenari di prova che richiedono alta corrente per i diodi di Schottky, le pile di ponte rettore, i dispositivi IGBT, i moduli a mezzo ponte IGBT,Moduli IPM, ecc. con una corrente inferiore a 300A. Utilizzando questo dispositivo, la prova di scansione "corrente-in-stato di tensione" può essere completata indipendentemente.

 

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b. "tecnologia" per la "riproduzione" o la "produzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie" per la "riproduzione" o la "riproduzione" di "tecnologie".

Tempo di risalita ultra veloce di 10 μs (tempo tipico).

Misurazione della tensione sincrona a due canali con una precisione dello 0,1%.

300 A di potenza programmabile per unità.

Supporta la protezione da sovra-corrente e la protezione da circuito aperto anormale.

Applicabile alla prova del tempo di risposta dei sensori ad alta corrente (risposta di passo).

 

Parametri del prodotto

Articolo 2

Parametri

Larghezza dell'impulso di corrente

50 μs - 1 ms

Selezione della polarità di uscita

positivo, negativo

Tempo minimo di ripetizione dell'impulso

100 ms

Aumento corrente - tempo

10 μs

Tensione di carico di uscita

20V@300A e impulso ≤ 500300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test 0

Misurazione della tensione DUT

Il numero di canali di misurazione indipendenti è 2. I metodi di misurazione sono la misurazione a distanza e la misurazione di picco - tensione (i punti di campionamento possono essere configurati)

corrente di impulso di uscita

L'intervallo è diviso in 5A, 100A e 300A, con una risoluzione di 16 bit.e l'accuratezza dell'intervallo 300A è ±00,1% ± 256 mA

Interfacce di comunicazione

RS232, LAN

Noise

< 65 dB

Voltaggio di ingresso

90 - 264V, 50/60Hz

 

Applicazioni

Diodo Schottky:Esso è utilizzato per testare la tensione immediata del diodo di Schottky, può fornire impulsi di alta corrente per simulare la situazione di alta corrente in funzionamento reale,e misurare con precisione i suoi parametri di prestazione in condizioni di alta corrente.

Piattaforma di ponte rettificatore:Può eseguire una prova di spazzatura IV sulla pila di ponte raddrizzatore, rilevare le prestazioni di conduzione e la variazione di tensione della pila di ponte raddrizzatore sotto diverse correnti,e valutare la sua qualità e prestazioni.

Dispositivo IGBT:Può testare parametri quali il calo di tensione in stato di attivazione e l'impedenza del filo di legame dell'IGBT.Questo aiuta gli ingegneri a capire lo stato di funzionamento dell'IGBT sotto impulsi di corrente elevata e determinare se soddisfa i requisiti di progettazione e gli standard di qualità.

Modulo IGBT Half-Bridge, modulo IPM:Per il modulo IGBT half-bridge e il modulo IPM, possono essere completati elementi di prova quali il calo di tensione IGBT in stato di accensione, la tensione di diodo immediata in avanti e l'impedenza del filo di legame,fornire supporto dati per la valutazione delle prestazioni e l'ispezione della qualità dei moduli.

Prova del sensore ad alta corrente:È applicabile alla prova del tempo di risposta (in fase) dei sensori ad alta corrente.prova la velocità di risposta e la precisione del sensore alle variazioni di corrente, e valuta gli indicatori di prestazione del sensore.