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Un buon prezzo.  in linea

Dettagli dei prodotti

Created with Pixso. Casa. Created with Pixso. prodotti Created with Pixso.
Sistemi di prova dei semiconduttori
Created with Pixso. Sistema di prova C-V per dispositivi semiconduttori 10 Hz-1 MHz

Sistema di prova C-V per dispositivi semiconduttori 10 Hz-1 MHz

Marchio: PRECISE INSTRUMENT
MOQ: 1 unità
Tempo di consegna: 2- 8 settimane
Condizioni di pagamento: T/T
Informazioni dettagliate
Luogo di origine:
Cina
Frequenza di prova:
10 Hz-1 MHz
Accuratezza:
±0,01%
Intervallo di prova della capacità:
0.01pF ¥ 9.9999F
Imballaggi particolari:
Cartone.
Capacità di alimentazione:
500 SET/MONTH
Evidenziare:

Dispositivo di alimentazione a semiconduttore da 1 MHz

,

Dispositivo di alimentazione a semiconduttori a 10 Hz

,

Sistema di caratterizzazione dei semiconduttori C-V

Descrizione del prodotto

Sistema di prova C-V per dispositivi semiconduttori 10 Hz-1 MHz

La misurazione della capacità-tensione (C-V) è ampiamente utilizzata per caratterizzare i parametri dei semiconduttori, in particolare nei condensatori MOS (MOS CAP) e nelle strutture MOSFET.La capacità di una struttura metallo-ossido-semiconduttore (MOS) è una funzione della tensione applicataLa curva che raffigura la variazione della capacità con la tensione è chiamata curva C-V (o caratteristiche C-V).

·Spessore dello strato di ossido (dox)

·Concentrazione di doping sul substrato (Nn)

·Densità di carica mobile nell'ossido (Q1)

·Densità di carica fissa dell'ossido (Qfc).

 

Caratteristiche del prodotto

Ampia gamma di frequenze: 10 Hz ∼1 MHz con punti di frequenza regolabili continuamente.

Alta precisione e ampio raggio dinamico: raggio di distorsione 0 V ∼ 3500 V con precisione dello 0,1%.

Test CV integrato: il software di test CV automatizzato integrato supporta molteplici funzioni, tra cui C-V (capacità-tensione), C-T (capacità-tempo) e C-F (capacità-frequenza).

IV Compatibilità di prova: misura simultaneamente le caratteristiche di rottura e il comportamento della corrente di fuga.

Grafica delle curve in tempo reale: l'interfaccia software intuitiva visualizza i dati di prova e le curve per il monitoraggio in tempo reale.

Alta scalabilità: la progettazione modulare del sistema consente una configurazione flessibile in base alle esigenze di prova.


Parametri del prodotto

Articolo 2

Parametri

Frequenza di prova

10 Hz-1 MHz

Accuratezza di uscita di frequenza

± 0,01%

Accuratezza di base

± 0,5%

Livello del segnale di prova CA

10mV~2Vrms (risoluzione di 1m Vrms)

Livello del segnale di prova a corrente continua

10 mV ~ 2 V (1m Vrms Resolution度)

Impedanza di uscita

100Ω

Intervallo di prova della capacità

0.01pF ¥ 9.9999F

Intervallo di bias VGS

0 - ±30V ((facoltativo))

Intervallo di bias VDS

300 V~1200 V

Parametri di prova

DIODE: CJ,IR,VR

MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS

IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES

Interfaccia

RS232, LAN

Programmazione

SCPI, Laboratorio.

 

Applicazioni

Nanomateriali: resistività, mobilità del vettore, concentrazione del vettore, tensione di Hall

Materiali flessibili: Prova di trazione/torsione/dobbiamento, tensione-tempo (V-t), corrente-tempo (I-t), resistenza-tempo (R-t), resistenza, sensibilità, capacità di giunzione.

Dispositivi discreti:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs(th),Ciss/Coss/Crss (Input/Output/Reverse).

Fotodetettori: Corrente scura (ID), Capacità di giunzione (Ct), Voltaggio di rottura inverso (VBR), Rispondenza (R).

Celle solari di perovskite: tensione a circuito aperto (VOC), corrente a corto circuito (ISC), potenza massima (Pmax), tensione di potenza massima (Vmax), corrente di potenza massima (Imax), fattore di riempimento (FF), efficienza (η),Resistenza di serie (Rs), resistenza allo shunt (Rsh), capacità di giunzione.

LED/OLED/QLED: tensione di avanzamento (VF), corrente di soglia (Ith), tensione inversa (VR), corrente inversa (IR), capacità di giunzione.



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Cina
Marca:
PRECISE INSTRUMENT
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Accuratezza:
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Intervallo di prova della capacità:
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Capacità di alimentazione:
500 SET/MONTH
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,

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Sistema di prova C-V per dispositivi semiconduttori 10 Hz-1 MHz

La misurazione della capacità-tensione (C-V) è ampiamente utilizzata per caratterizzare i parametri dei semiconduttori, in particolare nei condensatori MOS (MOS CAP) e nelle strutture MOSFET.La capacità di una struttura metallo-ossido-semiconduttore (MOS) è una funzione della tensione applicataLa curva che raffigura la variazione della capacità con la tensione è chiamata curva C-V (o caratteristiche C-V).

·Spessore dello strato di ossido (dox)

·Concentrazione di doping sul substrato (Nn)

·Densità di carica mobile nell'ossido (Q1)

·Densità di carica fissa dell'ossido (Qfc).

 

Caratteristiche del prodotto

Ampia gamma di frequenze: 10 Hz ∼1 MHz con punti di frequenza regolabili continuamente.

Alta precisione e ampio raggio dinamico: raggio di distorsione 0 V ∼ 3500 V con precisione dello 0,1%.

Test CV integrato: il software di test CV automatizzato integrato supporta molteplici funzioni, tra cui C-V (capacità-tensione), C-T (capacità-tempo) e C-F (capacità-frequenza).

IV Compatibilità di prova: misura simultaneamente le caratteristiche di rottura e il comportamento della corrente di fuga.

Grafica delle curve in tempo reale: l'interfaccia software intuitiva visualizza i dati di prova e le curve per il monitoraggio in tempo reale.

Alta scalabilità: la progettazione modulare del sistema consente una configurazione flessibile in base alle esigenze di prova.


Parametri del prodotto

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Parametri

Frequenza di prova

10 Hz-1 MHz

Accuratezza di uscita di frequenza

± 0,01%

Accuratezza di base

± 0,5%

Livello del segnale di prova CA

10mV~2Vrms (risoluzione di 1m Vrms)

Livello del segnale di prova a corrente continua

10 mV ~ 2 V (1m Vrms Resolution度)

Impedanza di uscita

100Ω

Intervallo di prova della capacità

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0 - ±30V ((facoltativo))

Intervallo di bias VDS

300 V~1200 V

Parametri di prova

DIODE: CJ,IR,VR

MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS

IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES

Interfaccia

RS232, LAN

Programmazione

SCPI, Laboratorio.

 

Applicazioni

Nanomateriali: resistività, mobilità del vettore, concentrazione del vettore, tensione di Hall

Materiali flessibili: Prova di trazione/torsione/dobbiamento, tensione-tempo (V-t), corrente-tempo (I-t), resistenza-tempo (R-t), resistenza, sensibilità, capacità di giunzione.

Dispositivi discreti:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs(th),Ciss/Coss/Crss (Input/Output/Reverse).

Fotodetettori: Corrente scura (ID), Capacità di giunzione (Ct), Voltaggio di rottura inverso (VBR), Rispondenza (R).

Celle solari di perovskite: tensione a circuito aperto (VOC), corrente a corto circuito (ISC), potenza massima (Pmax), tensione di potenza massima (Vmax), corrente di potenza massima (Imax), fattore di riempimento (FF), efficienza (η),Resistenza di serie (Rs), resistenza allo shunt (Rsh), capacità di giunzione.

LED/OLED/QLED: tensione di avanzamento (VF), corrente di soglia (Ith), tensione inversa (VR), corrente inversa (IR), capacità di giunzione.