1200V/100A Analisatore di parametri dei semiconduttori SPA6100

L'analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100 offre vantaggi tra cui elevata precisione, ampia gamma di misura, rapida flessibilità e forte compatibilità.Questo prodotto supporta la prova simultanea di corrente continua-tensione (I-V), capacità-tensione (C-V) e caratteristiche I-V pulsate in condizioni di alta corrente/alta tensione.

Dotato di una struttura modulare, consente agli utenti di selezionare e configurare in modo flessibile le unità di misurazione per l'aggiornamento del sistema in base ai requisiti di prova.L'analizzatore supporta misurazioni fino a 1200V di tensione, 100A di alta corrente e 1pA di bassa risoluzione di corrente, consentendo anche misurazioni di capacità AC multi-frequenza nell'intervallo da 10 kHz a 1 MHz.

Equipaggiato con un software dedicato per il test dei parametri dei semiconduttori, supporta sia il funzionamento manuale interattivo che il funzionamento automatizzato integrato con le stazioni di sonda.Il sistema semplifica l'intero flusso di lavoro dalla configurazione di misurazione, l'esecuzione, l'analisi dei risultati alla gestione dei dati, consentendo una caratterizzazione efficiente e ripetibile del dispositivo.è compatibile con camere a temperatura e moduli di controllo termico per soddisfare i requisiti di prova ad alta/bassa temperatura.

Caratteristiche del prodotto

▪30 μV a 1200 V, 1pA a 100A, capacità di misurazione ad ampio raggio
▪Alta precisione di misura, fino allo 0,03% su tutta la gamma di misura
▪Programmi di prova standard integrati per l'invocazione diretta e i test semplificati
▪Funzioni di estrazione automatica dei parametri in tempo reale, di tracciamento dei dati e di analisi
▪Trasferimento rapido tra le misurazioni C-V e I-V senza necessità di ricalcolazione
▪Soluzioni flessibili per la personalizzazione degli apparecchi con una forte compatibilità
▪Software gratuito per PC e set di comandi SCPI forniti

Parametri del prodotto

Applicazioni

▪Nanomateriali: resistività, mobilità del vettore, concentrazione del vettore, tensione di Hall

▪Materiali flessibili: Prova di trazione/torsione/dobbiamento, tensione-tempo (V-t), corrente-tempo (I-t), resistenza-tempo (R-t), resistività, sensibilità

▪Chips IC: test aperto/corto (O/S), corrente alta/bassa di ingresso (IIH/IIL), tensione alta/bassa di uscita (VOH/VOL), curve I/O pin I-V

▪Dispositivi discreti:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs(th),Rdson,Ciss/Coss/Crss (Capacità di trasferimento di input/output/reverse),Output/Transfer/C-V Curves.

▪Fotodetettori: Corrente scura (ID), Capacità di giunzione (Ct), Voltaggio di rottura inverso (VBR), Rispondenza (R).

▪Celle solari di perovskite: tensione a circuito aperto (VOC), corrente a corto circuito (ISC), potenza massima (Pmax), tensione di potenza massima (Vmax), corrente di potenza massima (Imax), fattore di riempimento (FF), efficienza (η),Resistenza di serie (Rs), Shunt Resistance (Rsh)

▪LD/LED/OLED:Corrente di funzionamento (Iop), potenza ottica (Popt), tensione in avanti (VF),Corrente di soglia (Ith), tensione inversa (VR), corrente inversa (IR), tensione di corrente luminosa (LIV) e curve di luminosità IV (IVL)

▪ Sensori/memristori: tensione-tempo (V-t), corrente-tempo (I-t), resistenza-tempo (R-t),Prova IV DC/Pulse/AC