10V 1A PXI SMU 4 Canale Sub Card Impulso SMU sorgente Unità di misura CBI402

La sottokarte modulare CBI402 è un'unità di misurazione delle sorgenti (SMU) ad alta densità e multicanale progettata per scenari di test ad alta efficienza e precisione.Dotato di un'architettura basata su schede con 4 canali indipendenti per sottoscheda e una configurazione di terra comune, si integra perfettamente con gli host della serie CS (ad esempio, CS1010C), consentendo un'espansione scalabile fino a 40 canali per host.Questa progettazione aumenta significativamente il throughput dei test riducendo al contempo i costi di integrazione del sistema, rendendolo ideale per applicazioni ad alto volume come la convalida dei dispositivi di alimentazione e il test dei wafer multi-sonda.

Caratteristiche del prodotto

▪Integrazione multifunzionale:Combina le funzionalità di fonte di tensione / corrente, misurazione e carico elettronico.

▪Operazione Quattro Quadranti:Supporta modalità di alimentazione/abbassamento (±10V, ±1A) per la caratterizzazione dinamica dei dispositivi.

▪Potenza di uscita:Fornisce corrente fino a 1A e 10W per canale per capacità di test robuste.

▪Controllo multicanale sincronizzato:Abilita l'approvvigionamento/misurazione parallelo attraverso canali con allineamento temporale a livello μs.

▪Moduli di prova duplice:Modalità pulsate e di corrente continua per un adattamento flessibile del protocollo di prova.

▪ Architettura configurabile:I canali operano in modo indipendente o in gruppi sincronizzati per i flussi di lavoro di test di dispositivi misti.

Parametri del prodotto

Applicazioni

▪Semiconduttori di potenza:utilizzato per vari test di semiconduttori di potenza rappresentati da SiC (carburo di silicio) e GaN (nitruro di gallio), compresi i test di tensione di rottura e di invecchiamento,fornire supporto dati per la ricerca e lo sviluppo e l'ispezione della qualità dei semiconduttori di potenza.

▪Dispositivi discretiPuò condurre prove di resistenza alla tensione su dispositivi discreti come diodi e transistor, garantendo che le prestazioni di questi dispositivi soddisfino gli standard in ambienti di tensione diversi.

▪Circuiti integrati:Nei settori dei circuiti integrati e della microelettronica, viene utilizzato per test relativi ai chip per garantire la stabilità e l'affidabilità dei chip in ambienti ad alta tensione.

▪Ricerca dei materiali:Per lo studio delle proprietà elettriche dei materiali semiconduttori, attraverso l'uscita ad alta tensione e le funzioni di misurazione, vengono analizzate le caratteristiche dei materiali,contribuire alla ricerca e allo sviluppo di nuovi materiali semiconduttori.

▪Sensori:Fornisce soluzioni di prova di verifica delle prestazioni per vari sensori, simula ambienti ad alta tensione e rileva le prestazioni dei sensori in condizioni di tensione estrema.

▪Campo di insegnamento:Fornisce attrezzature professionali per laboratori di insegnamento di circuiti integrati e microelettronica,aiutare gli studenti a imparare i principi e i metodi di funzionamento delle prove ad alta tensione e migliorare le loro capacità pratiche.