10V 500mA PXI Unità di misura della sorgente Sub Card Pulse PXI SMU Unità CBI401

La sottokarte modulare CBI401 è un componente centrale delle unità di misurazione di sorgente digitale di precisione della serie CS (SMU), progettate per la caratterizzazione elettrica multicanale di potenza media a bassa.Dispone di un'architettura a terra comune quadri-canale a carta singola, ogni canale funziona in modo indipendente o sincrono, ideale per test paralleli ad alta densità.si avvale di una larghezza di banda di 3 Gbps e di un bus di trigger di 16 canali per consentire il coordinamento multi-dispositivo ad alta velocitàOttimizzato per test batch a basso rumore e ad alta stabilità, fornisce corrente fino a 500mA, tensione 10V e potenza 5W per canale, rispondendo alle esigenze di test di precisione in semiconduttori, sensori,e dispositivi di microalimentazione.

Caratteristiche del prodotto

▪Disegno multicanale ad alta densità:Integra 4 canali indipendenti per sottokarte per il test dei dispositivi paralleli.

▪ Operazione sincronizzata:La sincronizzazione dei canali, attivata da hardware, garantisce una precisione di tempistica a livello di μs.

▪ Precisione e basso rumore:0accuratezza di accensione/misurazione dello 0,1% con risoluzione a 51⁄2 cifre; misurazione della corrente fino a 5μA, gamma di tensione 10mV ∼10V.

▪ Operazione Quattro Quadranti:Simula l'alimentazione o il comportamento del carico elettronico nelle modalità di approvvigionamento/affondamento.

▪ Flessibilità in doppia modalità:Supporta sia i protocolli di test a impulsi che a corrente continua per la caratterizzazione dinamica.

▪ Architettura scalabile:Integrazione perfetta con gli host della serie CS per l'espansione del sistema fino a 40 canali.

Parametri del prodotto

Applicazioni

▪ Prova delle caratteristiche dei dispositivi semiconduttori discreti, comprese le resistenze, i diodi, i diodi emettitori di luce, i diodi Zener, i diodi PIN, i transistor BJT, i MOSFET, i SIC, i GaN e altri dispositivi;

▪ prove di energia ed efficienza,comprese le celle solari LED/AMOLED, i convertitori CC-DC, ecc.;

▪ prova delle caratteristiche del sensore, compresa la resistività, l'effetto Hall, ecc.;

▪ Prova delle caratteristiche dei materiali organici, compresa l'inchiostro elettronico, la tecnologia elettronica stampata, ecc.;

▪ Test delle caratteristiche dei nanomateriali, compreso il grafene, i nanofili, ecc.