Video Canale della Cina Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chiacchierare Contattici
Casa. Video Playlist Su di noi Sito ufficiale
Italiano
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

Misuratore di sorgente a doppio canale da 100 V/30 A DP200B per la prova BJT

Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025
Chiacchierare
Introduzione del DP200B, un misuratore di sorgente a doppio canale da 100 V/30 A per il test BJT, che offre quattro quadranti di funzionamento, misurazione sincrona a bassa latenza a 2 canali,e rapida generazione di curve caratteristiche per i diodi di prova, transistor e altro ancora.Benvenuti al nostro sito web!
Misuratore di sorgente a doppio canale
Video correlati
Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche 00:24
Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche

Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche
Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025
Misuratore di sorgente a doppio canale 30V/30A DP100B con misurazione di tensione/corrente e funzionamento in quattro quadranti 00:24
Misuratore di sorgente a doppio canale 30V/30A DP100B con misurazione di tensione/corrente e funzionamento in quattro quadranti

Misuratore di sorgente a doppio canale 30V/30A DP100B con misurazione di tensione/corrente e funzionamento in quattro quadranti
Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN 00:30
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS 00:24
Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS

Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
300A/30V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL030 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24
300A/30V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL030 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN

300A/30V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL030 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN
Fornitore di corrente elevata
February 25, 2025
2 ms/s Carta di acquisizione dati multicanale A400B Board Alta velocità 00:27
2 ms/s Carta di acquisizione dati multicanale A400B Board Alta velocità

2 ms/s Carta di acquisizione dati multicanale A400B Board Alta velocità
Unità di misura di fonte
February 26, 2025
Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI 00:34
Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI

Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna. 01:24
Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna.

Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna.
Altri video
February 17, 2025
1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100 00:36
1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100

1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
30V/1A/10A Prova dei semiconduttori Quattro quadranti di funzionamento Pulsometro P100 00:24
30V/1A/10A Prova dei semiconduttori Quattro quadranti di funzionamento Pulsometro P100

30V/1A/10A Prova dei semiconduttori Quattro quadranti di funzionamento Pulsometro P100
Unità di misura di fonte
February 24, 2025