Video Canale della Cina Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chiacchierare Contattici
Casa. Video Playlist Su di noi Sito ufficiale
Italiano
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna.

Altri video
February 17, 2025
Chiacchierare
Con l'unità di misura della sorgente come nucleo, concentrandosi sui test dei semiconduttori di potenza.
Pragmatico.
Affidabile
Economia
Compatibile
Intelligente
Norme
E'emozionante.
Unità di misura di fonte Prova dei semiconduttori
Video correlati
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN 00:30
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI 00:34
Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI

Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
300V/4A/30A Unità di misura della sorgente di impulsi P300B per semiconduttori e materiali 00:24
300V/4A/30A Unità di misura della sorgente di impulsi P300B per semiconduttori e materiali

300V/4A/30A Unità di misura della sorgente di impulsi P300B per semiconduttori e materiali
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS 00:24
Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS

Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
Unità di misura della fonte di corrente continua S300B per la prova di semiconduttori a 300V/3A 00:24
Unità di misura della fonte di corrente continua S300B per la prova di semiconduttori a 300V/3A

Unità di misura della fonte di corrente continua S300B per la prova di semiconduttori a 300V/3A
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
300V/1A/10A Prova dei semiconduttori Quattro quadranti di funzionamento Misuratore di sorgente di impulsi P300 00:24
300V/1A/10A Prova dei semiconduttori Quattro quadranti di funzionamento Misuratore di sorgente di impulsi P300

300V/1A/10A Prova dei semiconduttori Quattro quadranti di funzionamento Misuratore di sorgente di impulsi P300
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
30V/1A Prova delle caratteristiche elettriche dei semiconduttori Unità di misura della sorgente CC S100 00:36
30V/1A Prova delle caratteristiche elettriche dei semiconduttori Unità di misura della sorgente CC S100

30V/1A Prova delle caratteristiche elettriche dei semiconduttori Unità di misura della sorgente CC S100
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT 00:24
Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT

Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT
Fonte di alimentazione ad alta tensione
February 25, 2025
1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24
1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN

1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN
Unità di misura di fonte
February 25, 2025
Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche 00:24
Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche

Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche
Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025