Marchio: | PRECISE INSTRUMENT |
Numero di modello: | P100B |
MOQ: | 1 unità |
Tempo di consegna: | 2- 8 settimane |
Condizioni di pagamento: | T/T |
30V 4A 30A Unità di misura della sorgente di impulsi P100B Sourcemeter per dispositivi semiconduttori
Il P100B Benchtop Pulse SourceMeter è uno strumento di prova ad alte prestazioni orientato al futuro, progettato per integrare l'elaborazione avanzata del segnale digitale, il controllo intelligente,e tecnologie di interazione uomo-macchina. Combina misurazioni di alta precisione, uscita di ampia gamma dinamica e un'operazione touch digitale user-friendly.il P100B fornisce una tensione di uscita massima di 30 V e una corrente pulsata di 30 AIl P100B si distingue come strumento versatile per la caratterizzazione di semiconduttori moderni, nanomateriali,elettronica organica, elettronica stampata e altri dispositivi a bassa potenza e su piccola scala.
Caratteristiche del prodotto
Performance all'avanguardia con tecnologia avanzata
▪Utilizza la taratura digitale, il filtraggio adattivo e l'elaborazione dei dati ad alta velocità per ottenere precisione e gamma dinamica leader del settore.
▪Misura correnti ultrabasse fino a 1 pA per dispositivi a bassa potenza e fornisce uscite pulsate stabili da 30 A per componenti ad alta potenza.
▪Gli algoritmi intelligenti garantiscono un controllo preciso e errori ridotti al minimo durante tutti i processi di prova.
Interazione intelligente intuitiva
▪Lo schermo touchscreen da 5 pollici con interfaccia completamente grafica supporta i comandi vocali per una rapida configurazione e consultazione dei dati.
▪I layout e le scorciatoie delle interfacce personalizzabili si adattano alle abitudini degli utenti, riducendo le curve di apprendimento e aumentando l'efficienza.
Controllo dell'impulso ad alta precisione e applicazioni innovative
▪Raggiunge una larghezza di impulso minima di 200 μs con circuiti avanzati per un'ampiezza e un tempismo stabili.
▪Supporta PWM (Pulse Width Modulation), PFM (Pulse Frequency Modulation) e modalità di modulazione personalizzate per comunicazioni wireless, sistemi radar e altre applicazioni all'avanguardia.
Operazione adattabile a quattro quadranti
▪Simula le condizioni elettriche del mondo reale, compresa la corrente bidirezionale proveniente/abbassata (modi sorgente/abbassamento).
Moduli di scansione innovativi e analisi dei dati approfonditi
▪Modalità di scansione dinamica: regola automaticamente i parametri di scansione in base ai dati in tempo reale per il test adattivo.
▪Modalità di scansione correlata: consente di effettuare test congiunti multiparametrale per scoprire le relazioni dei dati nascosti.
▪Il motore di analisi AI integrato genera intuizioni predittive e rapporti professionali.
Gestione efficiente dei dati
▪Lo storage USB e la generazione di report con un solo clic semplificano la condivisione dei dati.
▪Classifica, archivia, recupera e fa il backup dei dati di prova per una facile gestione.
▪La trasmissione e la condivisione remota dei dati tramite interfacce di rete migliorano la collaborazione di squadra.
Connettività aperta e integrazione degli ecosistemi
▪Equipaggiato con interfacce RS-232, GPIB e LAN per un'integrazione senza soluzione di continuità con sistemi di prova automatizzati (ATE) e software di terze parti.
· Collabora con i partner industriali per far progredire le tecnologie e le applicazioni di misura.
Parametri del prodotto
Articolo 2 |
Parametri |
Intervalli V |
300 mV-30V |
Intervalli I |
Modalità di impulso: 10nA30A Modalità CC: 10nA4A |
Limiti di potenza |
Modalità CC: massimo 40W /Modalità Pulso: massimo 400W |
Larghezza minima dell'impulso |
200 μs |
Tasso di campionamento |
100,000 S/s |
Accuratezza |
00,1%/0,03% |
Azionamento: polarità di attivazione di I/O configurabile |
Polarità del grilletto I/O |
Visualizzazione |
schermo touchscreen da 5 pollici |
Interfacce |
RS-232, GPIB, LAN |
Immagazzinamento |
Supporto USB |
Fornitore di energia |
100 ̊240 V CA, 50/60 Hz |
Applicazioni
Innovazione nella tecnologia dei semiconduttori
▪Testa i materiali 2D, i punti quantistici e gli IC a nodo avanzato per la corrente di perdita, la tensione di soglia e l'ottimizzazione dei processi.
▪Valida i dispositivi SiC/GaN in condizioni di alta tensione/alta temperatura per accelerare l'elettronica di potenza di nuova generazione.
Energia e sistemi energetici:Misura l'efficienza delle celle solari perovskite/organiche e i cicli di carica/scarica delle batterie allo stato solido/ioni di sodio.
Sensore:Le prestazioni elettriche dei sensori resistivi
Ricerca avanzata sui materiali
▪Analizza i nanocompositi, i semiconduttori organici e i superconduttori per le proprietà elettriche, ottiche e multi-fisiche.
▪Spinge le innovazioni in elettronica flessibile, indossabili e tecnologie di stoccaggio dell'energia.
Marchio: | PRECISE INSTRUMENT |
Numero di modello: | P100B |
MOQ: | 1 unità |
Dettagli dell' imballaggio: | Cartone. |
Condizioni di pagamento: | T/T |
30V 4A 30A Unità di misura della sorgente di impulsi P100B Sourcemeter per dispositivi semiconduttori
Il P100B Benchtop Pulse SourceMeter è uno strumento di prova ad alte prestazioni orientato al futuro, progettato per integrare l'elaborazione avanzata del segnale digitale, il controllo intelligente,e tecnologie di interazione uomo-macchina. Combina misurazioni di alta precisione, uscita di ampia gamma dinamica e un'operazione touch digitale user-friendly.il P100B fornisce una tensione di uscita massima di 30 V e una corrente pulsata di 30 AIl P100B si distingue come strumento versatile per la caratterizzazione di semiconduttori moderni, nanomateriali,elettronica organica, elettronica stampata e altri dispositivi a bassa potenza e su piccola scala.
Caratteristiche del prodotto
Performance all'avanguardia con tecnologia avanzata
▪Utilizza la taratura digitale, il filtraggio adattivo e l'elaborazione dei dati ad alta velocità per ottenere precisione e gamma dinamica leader del settore.
▪Misura correnti ultrabasse fino a 1 pA per dispositivi a bassa potenza e fornisce uscite pulsate stabili da 30 A per componenti ad alta potenza.
▪Gli algoritmi intelligenti garantiscono un controllo preciso e errori ridotti al minimo durante tutti i processi di prova.
Interazione intelligente intuitiva
▪Lo schermo touchscreen da 5 pollici con interfaccia completamente grafica supporta i comandi vocali per una rapida configurazione e consultazione dei dati.
▪I layout e le scorciatoie delle interfacce personalizzabili si adattano alle abitudini degli utenti, riducendo le curve di apprendimento e aumentando l'efficienza.
Controllo dell'impulso ad alta precisione e applicazioni innovative
▪Raggiunge una larghezza di impulso minima di 200 μs con circuiti avanzati per un'ampiezza e un tempismo stabili.
▪Supporta PWM (Pulse Width Modulation), PFM (Pulse Frequency Modulation) e modalità di modulazione personalizzate per comunicazioni wireless, sistemi radar e altre applicazioni all'avanguardia.
Operazione adattabile a quattro quadranti
▪Simula le condizioni elettriche del mondo reale, compresa la corrente bidirezionale proveniente/abbassata (modi sorgente/abbassamento).
Moduli di scansione innovativi e analisi dei dati approfonditi
▪Modalità di scansione dinamica: regola automaticamente i parametri di scansione in base ai dati in tempo reale per il test adattivo.
▪Modalità di scansione correlata: consente di effettuare test congiunti multiparametrale per scoprire le relazioni dei dati nascosti.
▪Il motore di analisi AI integrato genera intuizioni predittive e rapporti professionali.
Gestione efficiente dei dati
▪Lo storage USB e la generazione di report con un solo clic semplificano la condivisione dei dati.
▪Classifica, archivia, recupera e fa il backup dei dati di prova per una facile gestione.
▪La trasmissione e la condivisione remota dei dati tramite interfacce di rete migliorano la collaborazione di squadra.
Connettività aperta e integrazione degli ecosistemi
▪Equipaggiato con interfacce RS-232, GPIB e LAN per un'integrazione senza soluzione di continuità con sistemi di prova automatizzati (ATE) e software di terze parti.
· Collabora con i partner industriali per far progredire le tecnologie e le applicazioni di misura.
Parametri del prodotto
Articolo 2 |
Parametri |
Intervalli V |
300 mV-30V |
Intervalli I |
Modalità di impulso: 10nA30A Modalità CC: 10nA4A |
Limiti di potenza |
Modalità CC: massimo 40W /Modalità Pulso: massimo 400W |
Larghezza minima dell'impulso |
200 μs |
Tasso di campionamento |
100,000 S/s |
Accuratezza |
00,1%/0,03% |
Azionamento: polarità di attivazione di I/O configurabile |
Polarità del grilletto I/O |
Visualizzazione |
schermo touchscreen da 5 pollici |
Interfacce |
RS-232, GPIB, LAN |
Immagazzinamento |
Supporto USB |
Fornitore di energia |
100 ̊240 V CA, 50/60 Hz |
Applicazioni
Innovazione nella tecnologia dei semiconduttori
▪Testa i materiali 2D, i punti quantistici e gli IC a nodo avanzato per la corrente di perdita, la tensione di soglia e l'ottimizzazione dei processi.
▪Valida i dispositivi SiC/GaN in condizioni di alta tensione/alta temperatura per accelerare l'elettronica di potenza di nuova generazione.
Energia e sistemi energetici:Misura l'efficienza delle celle solari perovskite/organiche e i cicli di carica/scarica delle batterie allo stato solido/ioni di sodio.
Sensore:Le prestazioni elettriche dei sensori resistivi
Ricerca avanzata sui materiali
▪Analizza i nanocompositi, i semiconduttori organici e i superconduttori per le proprietà elettriche, ottiche e multi-fisiche.
▪Spinge le innovazioni in elettronica flessibile, indossabili e tecnologie di stoccaggio dell'energia.