Semiconduttori Fonte di misura Unità 100V 1A 10A Fonte d'impulso Unità di misura P200

Il P200 Benchtop Pulse Source Meter è uno strumento di prova ad alte prestazioni progettato per integrare la misurazione di precisione, l'uscita di ampio raggio dinamico e il funzionamento digitale touch intuitivo.Con un touchscreen da 5 pollici con semplicità simile a quella di uno smartphone, il P200 fornisce una potenza di uscita fino a 100 V e una corrente pulsata di 10 A, supportando un funzionamento a quattro quadranti.serve come strumento versatile per caratterizzare i semiconduttori, nanomateriali, elettronica organica, elettronica stampata e altri componenti su piccola scala a bassa potenza.

Caratteristiche del prodotto

▪Precisione e affidabilità:La tecnologia di misurazione avanzata garantisce la precisione da 1pA a 10A di correnti pulsate, garantendo dati affidabili per applicazioni critiche.

▪Interfaccia user-friendly:L'interfaccia grafica semplificata con un touchscreen da 5 pollici semplifica le impostazioni complesse, anche per gli utenti novizi.

▪Ampia gamma di prova:Copre correnti pulsate di 1pA1A DC e 10A, tensione di 0100V, sensori di supporto, moduli di alimentazione e dispositivi a bassa potenza.

▪Impulso stabile:Raggiunge una larghezza di impulso minima di 200 μs con un controllo preciso, ideale per i test di semiconduttori ad alta velocità.

▪Moduli di funzionamento flessibili:Il processo di produzione/sinking bidirezionale di corrente (modi sorgente/sink) simula scenari reali, compresi i test di recupero dell'energia.

▪Scansione avanzata:Le scansioni lineari, logaritmiche e personalizzate ottimizzano la caratterizzazione IV per materiali o dispositivi con comportamenti non lineari.

▪Gestione efficiente dei dati:Lo storage USB e la generazione di report con un solo clic semplificano l'analisi e la condivisione dei dati.

▪Integrazione senza soluzione di continuità:Le interfacce RS-232, GPIB e LAN consentono l'integrazione del sistema ATE e il controllo remoto.

Parametri del prodotto

Applicazioni

▪Industria dei semiconduttori:Testare le perdite inverse nei diodi, le caratteristiche di commutazione dei MOSFET e le prestazioni ad alta temperatura dei dispositivi SiC per la ricerca e lo sviluppo e il controllo della qualità.

▪Tecnologia dell'energia e della visualizzazione:Misurare la luminosità, la cromaticità e l'efficienza energetica del LED/AMOLED. Valutazione dei tassi di conversione delle celle solari e dei cicli di carica/scarica della batteria.

▪Validazione dei sensori:Assicurare la linearità dei sensori di pressione, la sensibilità dei sensori di temperatura e l'affidabilità per l'IoT e l'automazione industriale.

▪Scienze dei materiali:Caratterizzare l'inchiostro elettronico per i display flessibili, la conducibilità del grafene / nanofili e i semiconduttori organici per l'elettronica di nuova generazione.