Video Canale della Cina Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chiacchierare Contattici
Casa. Video Playlist Website

300V/1A/10A Prova dei semiconduttori Quattro quadranti di funzionamento Misuratore di sorgente di impulsi P300

Unità di misura di fonte
February 24, 2025
Category Connection: Unità di misura di fonte
Chiacchierare Contattici
per la prova dei semiconduttori, dotato di un touchscreen da 5 pollici con visualizzazione dello stato di prova in tempo reale, potenza massima di 300 V e 10 A di corrente pulsata e funzionamento in quattro quadranti,ideale per caratterizzare i semiconduttori moderni, nanomateriali e altri dispositivi a bassa potenza, benvenuti al nostro sito web!
Tag:
#unità di misura della fonte #Unità di misura della fonte #Unità di misura della sorgente di precisione
Video correlati
2 ms/s Carta di acquisizione dati multicanale A400B Board Alta velocità 00:27

2 ms/s Carta di acquisizione dati multicanale A400B Board Alta velocità
Unità di misura di fonte
February 26, 2025
1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN
Unità di misura di fonte
February 25, 2025
S300 Unità di misura della sorgente di corrente continua 300V/1A per la prova delle caratteristiche elettriche 00:24

S300 Unità di misura della sorgente di corrente continua 300V/1A per la prova delle caratteristiche elettriche
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
Carta di acquisizione dati A400 con risoluzione ADC a 16 bit e velocità di campionamento di 1 ms/s 00:24

Carta di acquisizione dati A400 con risoluzione ADC a 16 bit e velocità di campionamento di 1 ms/s
Carta di acquisizione dati
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI 00:34

Sistema di invecchiamento laser ad alta potenza multicanale LDBI
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
18V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI403 a quattro canali 00:28

18V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI403 a quattro canali
Apparecchiature di prova multicanale
February 24, 2025
Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna. 01:24

Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna.
Altri video
February 17, 2025
1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100 00:36

1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 26, 2025
10V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI402 00:24

10V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI402
Apparecchiature di prova multicanale
February 24, 2025