Video Canale della Cina Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contattici
Casa. Video Playlist Sito web

Misuratore di sorgente a doppio canale da 100 V/30 A DP200B per la prova BJT

Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025
Keyword: Misuratore di sorgente a doppio canale
Contattici
Tag:
#misuratore a doppia fonte #unità di misura della sorgente smu #unità di misura smu
Video Description:
Discover the DP200B Dual Channel Source Meter, a high-precision desktop pulse source measurement unit designed for BJT testing. With a max output voltage of 100V and pulse current of 30A, it supports four-quadrant operation and independent or combined channel functionality. Ideal for semiconductor and nanodevice analysis.
Video correlati
Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche 00:24

Misuratore di sorgente a doppio canale di 300V/30A DP300B per varie prove di caratteristiche elettriche
Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025
Misuratore di sorgente a doppio canale 30V/30A DP100B con misurazione di tensione/corrente e funzionamento in quattro quadranti 00:24

Misuratore di sorgente a doppio canale 30V/30A DP100B con misurazione di tensione/corrente e funzionamento in quattro quadranti
Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025
1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100 00:36

1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 25, 2025
Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS 00:24

Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 25, 2025
S300 Unità di misura della sorgente di corrente continua 300V/1A per la prova delle caratteristiche elettriche 00:24

S300 Unità di misura della sorgente di corrente continua 300V/1A per la prova delle caratteristiche elettriche
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT 00:24

Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT
Fonte di alimentazione ad alta tensione
February 24, 2025
1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 25, 2025
100V/1A/10A Impulso di sorgente P200 per la caratterizzazione dei semiconduttori 00:24

100V/1A/10A Impulso di sorgente P200 per la caratterizzazione dei semiconduttori
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna. 01:24

Strumento preciso. Fonte di esplorazione coerenza interna ed esterna.
Altri video
February 16, 2025