Video Canale della Cina Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contattici
Casa. Video Playlist Sito web

10V/200mA Misuratore di sorgente CS400 a quattro canali per la prova ad elevato throughput in ambienti paralleli

Apparecchiature di prova multicanale
February 24, 2025
Keyword: Apparecchiature di prova multicanale
Contattici
Tag:
#Unità Smu #pxi SMU #PXI Unità di misura della fonte
Video Description:
Discover the CS400 Sub Card PXI SMU Unit, a high-density, multi-channel Source Measure Unit designed for high-throughput parallel testing. With four independent channels per module and compatibility with CS-series hosts, it supports up to 40 synchronized channels, enhancing efficiency and reducing costs in mass production environments.
Video correlati
10V/500mA Unità di misura della sorgente di impulso CBI401 00:24

10V/500mA Unità di misura della sorgente di impulso CBI401
Apparecchiature di prova multicanale
February 24, 2025
10V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI402 00:24

10V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI402
Apparecchiature di prova multicanale
February 24, 2025
18V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI403 a quattro canali 00:28

18V/1A Unità di misura della sorgente di impulso CBI403 a quattro canali
Apparecchiature di prova multicanale
February 24, 2025
1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100 00:36

1200V/100A analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 25, 2025
Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS 00:24

Sistema di prova del sensore di corrente 1000A CTMS
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 25, 2025
S300 Unità di misura della sorgente di corrente continua 300V/1A per la prova delle caratteristiche elettriche 00:24

S300 Unità di misura della sorgente di corrente continua 300V/1A per la prova delle caratteristiche elettriche
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT 00:24

Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT
Fonte di alimentazione ad alta tensione
February 24, 2025
1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

1000A/18V alimentazione ad impulso ad alta corrente HCPL100 per prova HEMT SiC/IGBT/GaN
Unità di misura di fonte
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN
Sistemi di prova dei semiconduttori
February 25, 2025
Misuratore di sorgente a doppio canale 30V/30A DP100B con misurazione di tensione/corrente e funzionamento in quattro quadranti 00:24

Misuratore di sorgente a doppio canale 30V/30A DP100B con misurazione di tensione/corrente e funzionamento in quattro quadranti
Misuratore di sorgente a doppio canale
February 24, 2025